| 主要技术指标参数： |
1、技术指标
1.1 仪器工作环境
1.1.1 电压：220VAC±10%；
1.1.2 室温：15-35℃；
1.1.3 相对湿度：20%-80%；
1.2 仪器总体要求：能快速一分钟内分析几十种元素含量，样品用量少，消耗成本低。仪器必需包括高频发生器、等离子体及进样系统、分光系统、检测器、分析软件和计算机系统，全自动控制。
1.3 性能指标：
1.3.1 检测器：
1.3.1.1 带高效半导体制冷的固体检测器，在光谱仪波长范围内具有连续像素，能任意选择波长，且具有天然的防溢出功能设计；
1.3.1.2 检测单元：≥4,000,000 个检测单元，读取速度 ≥ 2MHz；
1.2.1.3 像素分辨率：≤ 0.002nm；
1.3.1.4 检测器制冷系统：采用高效三级半导体制冷，工作温度：≤ -45℃，到达工作温度的时间：≤ 3min。
1.3.2 光学系统：恒温驱气型中阶梯分光系统
1.3.2.1 单色器：中阶梯光栅和棱镜二维色散系统，高能量，为保证仪器测试的稳定性，光栅和棱镜等内光路部件位置固定不动，在光谱仪全波长范围内一次曝光同时测定所有元素；
1.3.2.2 光室：带精密光室恒温 38℃±0.1℃，可使用氩气或氮气进行光室吹扫， 测定 ≤ 200nm 谱线时驱气量 ≤ 3L/min
▲1.3.2.3 波长范围：167-820nm，全波长覆盖，可测 Al167.079nm，P178.2nm，B182.6nm，Na818.326nm；
1.3.2.4 光学分辨率（FHW）：As189.042nm 半峰宽≤ 0.007nm， Ca393.366nm 半峰宽 ≤ 0.017nm，Ba614.172 半峰宽 ≤ 0.024nm，K766.490nm 半峰宽 ≤ 0.035nm（分辨率和检出限指标须在相同条件获得）；
1.3.2.5 焦距 ≤ 300mm。
1.3.3 等离子体：
1.3.3.1 等离子体观察方式：炬管垂直放置，双向观测，在一次分析中同时给出水平和垂直观测的结果； |
